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비분극 프로브 및 이를 포함하는 시추공 광대역 유도분극 검층기

비분극 프로브 및 이를 포함하는 시추공 광대역 유도분극 검층기 상세정보
대표분류 측정/검사/시험 구분 소액무상특허
기술테마 측정/검사/시험
연구기관 한국지질자원연구원 연구자 성낙훈
기술내용 이전대상 특허번호: 5520351(일본)
이전유형: 통상실시권
기술료: 중소기업 기준 : 기술지도 미포함 조건 / 기술료 300~500만원
비고: 부가세 별도

본 발명은 황화광물을 수반한 금속광체 구간을 조사하는데 유용한 비분극 프로브(non-polarizable probe)를 구성하고 이를 시추공 내에 삽입하여 광대역 유도분극 검층을 실시해 황화광물을 수반하고 있는 금속 광체의 분포 구간 및 특성을 신속하게 파악할 수 있는 비분극 프로브 및 이를 포함하는 시추공 광대역 유도분극 검층기에 관한 것으로, 상기 비분극 프로브는, 내부 공간을 가지는 본체와, 상기 본체 내에 이격되어 설치되는 전류전극 및 전위전극을 포함하여 구성되며, 상기 전류전극 및 전위전극은, 내부에 빈 공간을 갖는 내경 케이스; 상기 내경 케이스에 감겨지는 납봉; 상기 내경 케이스 및 납봉을 내장하는 외경 케이스; 및 상기 외경 케이스와 내경 케이스 사이의 공간에 채워지는 충전물; 을 포함하는 것을 특징으로 한다.
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