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근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템
| 대표분류 | 광학 | 구분 | 소액무상특허 |
|---|---|---|---|
| 기술테마 | 광학 | ||
| 연구기관 | 한국천문연구원 | 연구자 | 한정열 |
| 기술내용 | 이전대상 특허번호: 10-1455232(한국) 이전유형: 통상실시권 기술료: 무상 비고: - 본 발명은 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템의 한 예는 광통부를 가지는 제1 주반사경과 상기 제1 주반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경을 구비한 주반사경부, 상기 주반사경부와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키는 제1 부반사경과 상기 제2 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키며 제1 부반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경을 구비한 부반사경부, 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부, 그리고 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부를 포함하는 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템. |
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