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고온 조사 시험용 LVDT 및 LVDT의 제조 방법
| 대표분류 | 측정/검사/시험 | 구분 | 소액무상특허 |
|---|---|---|---|
| 기술테마 | 측정/검사/시험 | ||
| 연구기관 | 한국원자력연구원 | 연구자 | 이철용 |
| 기술내용 | 이전대상 특허번호: 10-1559099(한국) 이전유형: 양도 기술료: 무상 비고: - 본 발명은 종래의 고온에서의 온도 제한성을 향상시키고 미래 원자로 조건에서도 적합하게 사용하기 위해 구조를 단순화시키고 소형화시킨 LVDT(Linear Variable Differential Transformer)에 관한 것으로서, 측정 대상물과 접속되어 상기 측정 대상물의 변화에 따라 코어지지대(10)의 위치가 가변되고, 상기 코어지지대(10)에 형성된 코어(30)의 가변된 위치 방향인 축방향으로 코어 스프링(20)을 통하여 상기 코어(30)의 가변된 위치를 이동시키는 변위 검출부(200)와, 상기 코어(30)의 위치 변위에 상응하는 코일의 전기적 출력이 내부로 삽입된 절연케이블(110)에 의해 생성되도록 형성되는 차동 검출 조립부(300) 및 상기 차동 검출 조립부(300)로 삽입되는 절연케이블(110)의 삽입부를 밀봉시키는 봉단마개(90)가 포함된 것을 특징으로 하는 고온 조사 시험용 LVDT 및 LVDT의 제조방법이 제공된다. |
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